SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备-国际招标公告(1)
招标公告|招标公开招标北京市|北京市
招采单位：北京天科合达半导体股份有限公司联系方式：15******01更多 2
代理单位：苏美******公司
发布时间：2026-04-29标书获取截止时间：2026-05-09 00:00投标截止时间：2026-05-22 14:00开标时间：2026-05-22 14:00
项目编号：0664-2640SUMECA96/01来源：查看
代理单位：苏美******公司
发布时间：2026-04-29标书获取截止时间：2026-05-09 00:00投标截止时间：2026-05-22 14:00开标时间：2026-05-22 14:00
项目编号：0664-2640SUMECA96/01来源：查看
公告原文
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