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SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备中标结果公告(1)
中标公告|中标成交公开招标北京市|北京市
招采单位:北京天科合达半导体股份有限公司
中标单位:杭州******公司代理单位:苏美******公司
发布时间:2026-06-09开标时间:2026-06-02 14:00
项目编号:0664-2640SUMECA96/01来源:查看
公告原文
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