SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备-水滴标讯

项目进度

SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备

中标公告|开标公开招标北京市|北京市

招采单位：北京天科合达半导体股份有限公司
代理单位：苏美******公司
发布时间：2026-06-04开标时间：2026-06-02 14:00
项目编号：0664-2640SUMECA96/01来源：查看

公告原文

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