SiC衬底晶圆位错缺陷光学无损检测设备评标结果公示公告(1)
中标公告|候选公示公开招标北京市|北京市
招采单位：北京天科合达半导体股份有限公司
代理单位：苏美******公司
发布时间：2026-06-04投标截止时间：2026-06-08 23:59开标时间：2026-06-02 14:00
项目编号：0664-2640SUMECA96/01来源：查看
代理单位：苏美******公司
发布时间：2026-06-04投标截止时间：2026-06-08 23:59开标时间：2026-06-02 14:00
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公告原文
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