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【国内招标】自动膜厚测量仪,推拉力测试仪,图形检测仪,通断测试仪,激光打标机,缓存柜等设备采购变更公告【自动膜厚测量仪,推拉力测试仪,图形检测仪,通断测试仪,激光打标机,缓存柜/C1100000189010390001001,C1100000189010390001002,C1100000189010390001003,C1100000189010390001004,C1100000189010390001005,C1100000189010390001006】
招标公告|变更公开招标
招采单位:西安微电子技术研究所
发布时间:2024-04-02
项目编号:C1100000189010390001来源:查看
公告原文
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